Характеристики оборудования НАНОТЕХ

Камера рентгеновская VHR-2 «Photonic Sciеnce»

photonic_science

Страна: Великобритания

Год выпуска (модернизации): 2008

Назначение: Проведение исследований с использованием рентгеновских лучей

.

.

.

Основные технические характеристики:

  1. Количество пикселей 4008х2670
  2. Размер пикселя 4,5 мкм

.

Микроскоп электронный ЭМ-125

em-125Производитель: Сумский завод электронных приборов

Страна: Украина

Год выпуска (модернизации): 1984, модернизация в 2009 г. (ПКФ «Sumy Electron Optics»)

Назначение: Исследование структурных характеристик различных материалов (п/п, металлы)

Основные технические характеристики:

  1. Ускоряющее напряжение 50 – 120 кэВ
  2. Разрешение — 2 нм

.

.

.

Ускоритель частиц АN–2500 HVE

AN-2500_HVEПроизводитель: High Voltage Engineering Europa B.V.

Страна: Нидерланды

Год выпуска (модернизации): 1987

Назначение: Измерение спектров резерфордовского обратного рассеяния

.

.

.

Основные технические характеристики:

  1. Энергия ускоренных частиц от 500 до 2500 кэВ
  2. Ток на мишени до 100 мкА

.

Ускоритель частиц ЭСУ-2

esu-2Страна: Россия — Беларусь

Год выпуска (модернизации): 1953/1969/2001/2004

Назначение: Измерение спектров резерфордовского обратного рассеяния, имплантация ионов водорода, азота и гелия

Основные технические характеристики:

  1. Энергия ускоренных частиц от 150 до 1000 кэВ
  2. Ток на мишени до 40 мкА

.

.

.

.

.

Система препарирования образцов электронной микроскопии

preparation_system_GatanПроизводитель: Gatan, США; Struers, ФРГ

Страна: США

Год выпуска (модернизации): 2007

Назначение: Подготовка образцов для ПЭМ исследований в геометриях «plan – view» и «cross – section»

.

.

Основные технические характеристики: Получение тонких фольг 100 – 200 Å

.

Просвечивающий электронный микроскоп Hitachi H-800

Microscope_Hitachi-H-800Производитель: Hitachi

Страна: Япония

Год выпуска (модернизации): 1997

Назначение: Исследование различных твердотельных материалов (металлы, полупроводники, диэлектрики) методом ПЭМ (структура, дефекты, эл. дифракция)

Основные технические характеристики:

  1. Ускоряющее напряжение 100 – 200 кэВ
  2. Разрешение: просвечивающий режим — 0,2 нм, растровый режим – 3 нм

.

.

Установка для быстрого термического отжига «JETFIRST 100»

JETFIRST100Производитель: Jipelec Qualiflow

Страна: Франция

Год выпуска (модернизации): 2007

Назначение: Проведение быстрых термообработок в различных газовых средах

.

.

Основные технические характеристики:

  1. Максимальная температура отжига 1300ْ oС
  2. Максимальная скорость нагрева 300ْ o
  3. Ресурс ламп более 1000 часов
  4. Возможность подачи газов N2, O2, Ar

.

Измерительный спектроскопический комплекс RAMANOR U-1000

Ramanor

.

Производитель: Jobyn Yvon Instruments S. A. Inc.

Страна: Франция

Год выпуска (модернизации): 1988/2009

Назначение: Регистрация Рамановских спектров и спектров фотолюминесценции с возможностью регистрации в режиме счета фотонов

.

.

Основные технические характеристики:

Монохроматор (с решетками 1800 штрихов/мм)

  1. разрешение лучше 0.15 см -1 при 579.1 нм
  2. спектральный интервал от 322.5 нм до 910 нм

Портативный полупроводниковый лазер — длина волны 532 нм

Оптический микроскоп NIKON ECLIPSE LV 150 для анализа микрообъектов

Система управления и обработки SPECTRALINK 6

.

Лазерная технологическая система 4001194 ELS-02М

els-02m

.

Производитель: СП «Лотис»

Страна: Беларусь

Назначение: Направленная модификация оптических параметров прозрачных материалов, формирование в автоматическом режиме объемных изображений различной степени сложности внутри оптически прозрачных неорганических и органических материалов, а также прецизионная обработка поверхности металлов, полупроводников, диэлектриков, полимеров

Основные технические характеристики:

Рабочая длина волны 532 и 1064 нм

Энергия импульса излучения 100 мДж

Диаметр пятна фокусировки: в стекле 50 ¸ 200 мкм

Параметры системы сканирования:

  1. максимальные размеры рабочей области 240´310´100 мм3
  2. точность позиционирования +/- 20 мкм
  3. повторяемость +/- 10 мкм
  4. минимальный шаг 10 мкм

.

.

Лазер LS-2134D

с системой контроля параметров излучения и программным управлением

LaserLS-2134D

.

Производитель: СП «Лотис»

Страна: Беларусь

Год выпуска (модернизации): 2009

Назначение: Формирование наноструктурированных углеродсодержащих и многокомпонентных пленок из лазерной плазмы

.

.

Основные технические характеристики:

  1. Энергия, мДж на длине волны: 1064 нм – 200, 532 нм – 110
  2. Длительность импульса – 12 нс
  3. Частота повторения – 10 Гц,
  4. Расходимость пучка – 2,5 мрад
  5. Диаметр пучка – 6,3 мм,
  6. Стабильность по энергии – 2%,
  7. Время задержки между импульсами 0-80 мкс,
  8. Контроль энергии импульсов в диапазоне 0,1-250 мДж

.

Аппаратно-программный комплекс для измерений электромагнитных излучений

apkАппаратно-программный комплекс включает векторный анализатор цепей VectorStar VS4642B, измерительные антенны, поворотные устройства для крепления исследуемых объектов и обеспечивает измерение параметров сигналов в закрытых СВЧ трактах и электромагнитных излучений в открытом пространстве, обработку результатов измерений и подготовку документации при проведении исследований.

.

Год выпуска (модернизации): 2014

Назначение: для измерения пространственных характеристик излучения антенных устройств, исследования электродинамических характеристик радиопоглощающих материалов и частотно-избирательных структур, а также при настройке и исследовании характеристик различных СВЧ устройств.

Основные технические характеристики:

  1. Диапазон рабочих частот от 70 кГц до 20 ГГц;
  2. Динамический диапазон (системный): в диапазоне 0,07 0,3 МГц не менее 85 дБ, в диапазоне 0,3 2 МГц не менее 102 дБ, в диапазоне 2 10 МГц не менее 115 дБ, в диапазоне 0,01 – 2,5 ГГц не менее 122 дБ, в диапазоне 2,5 20 ГГц не менее 123 дБ;
  3. Выходная мощность: не менее +13 дБм в диапазоне от 2,5 ГГц до 20 ГГц;
  4. Разрешение по частоте: не хуже 1 Гц;
  5. Динамический диапазон приемника в диапазоне от 10 МГц до 20 ГГц, не менее 120 дБ;
  6. от 10 МГц до 20 ГГц, не хуже 110 дБ;
  7. Полоса ПЧ: 1, 3, 10, 30, 100, 300 Гц; 1, 3, 10, 30, 100, и 300 кГц; 1 MГц;
  8. Скорость измерения: 20 мксек на точку в синтезированном режиме с активной АРМ;
  9. В комплекте с прибором полноценный калибровочный набор и набор фазостабильных кабелей;
  10. Цветной сенсорный дисплей размером не менее 26.4 см (10.4”);
  11. Диапазон рабочих температур: от 0 °C до +50 °C;
  12. В комплекте с прибором набор переходных ВЧ адаптеров.

.

Цифровой запоминающий осциллограф с технологией цифрового люминофора Tektronix DPO7254С

tektronix-dpo7254c

.

Производитель: Tektronix

Страна: США

Год выпуска (модернизации): 2013

Назначение: проведение исследований электрических сигналов в быстродействующих широкополосных электронных схемах, для исследования быстропротекающих, переходных и редко повторяющихся процессов.

.

.

Основные технические характеристики:

  1. число измерительных каналов – 4;
  2. аналоговая полоса пропускания входного сигнала (по уровню минус 3 дБ) – 2,5 ГГц;
  3. чувствительность входа (для 1 МОм) – от 1 мВ/дел до 10 В/дел;
  4. частота дискретизации реального времени – 40 Гвыб/с (1 канал); 20 Гвыб/с (2 канала); 10 Гвыб/с (4 канала);
  5. глубина встроенной памяти (на канал) – 80 Мвыб (1 канал); 40 Мвыб (2 канала); 20 Мвыб (4 канал);
  6. более 50 видов автоматических измерений, 8 из которых могут отображаться одновременно; математическая обработка сигналов во временной и частотной области;
  7. разрешение дисплея – 1240 × 768 пикселей

.

Анализатор электромагнитной совместимости с измерительной антенной и программным обеспечением

Состав: анализатор сигналов MS2691A, предварительный усилитель MS2690A-008, стандартное программное приложение MX269000A, программное приложение для векторного анализа сигналов MX269017A, антенны ADA-2M и ADA-345K.

anritsu-analisator

.

Производитель: Anritsu Corporation

Страна: Япония

Год выпуска (модернизации): 2013

Назначение: измерение параметров сигналов в мобильных и беспроводных сетях

.

Основные технические характеристики:

  1. диапазон рабочих частот 50 Гц – 13.5 ГГц
  2. точность измерения амплитуды 0.5 дБ
  3. уровень шума 151 дБм/Гц
  4. максимальная полоса анализа сигнала 31.25 МГц