Белорусский межвузовский центр обслуживания научных исследований

Белорусский межвузовский центр обслуживания научных исследований (БМЦ) создан в 1984 году при Белорусском государственном университете Министерства образования Республики Беларусь.

Адрес:
220050, г. Минск, пр. Независимости, 4
Тел. 209-54-80, факс 209-54-45, e-mail: brlv@mail.ru

Научный руководитель: доктор физико-математических наук, профессор Анищик Виктор Михайлович

Руководитель: кандидат физико-математических наук Баран Людмила Владимировна.

 

Главные направления исследований:

  • разработка новых технологий получения материалов, в том числе с наноразмерными элементами структуры, с нелинейно-оптическими свойствами;
  • направленное модифицирование структуры и свойств материалов;
  • исследование структуры, элементного и фазового состава, интегральных и локальных электрических, механических, магнитных, оптических свойств новых материалов;
  • разработка приборов для контроля качества голографических изображений;
  • культивирование клеточных линий и микроорганизмов.

 

Перечень основных методик измерений:

  • количественный морфологический анализ  и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с применением сканирующего электронного микроскопа;
  • определение ориентации кристаллитов, свойств границ зерен, идентификация неизвестных фаз методом дифракции отраженных электронов;
  • определение элементного состава поверхности твердотельных структур методом рентгеноспектрального микроанализа;
  • трехмерные измерения линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа;
  • определения фазового состава методом рентгеновской дифрактометрии;
  • исследование  электронной и молекулярной структуры наноматериалов, включая биологические объекты, методом спектроскопических измерений (флуоресцентная кинетическая спектроскопия, люминесцентный анализ, рамановская спектроскопия);
  • исследование интегральных и локальных электрических и магнитных свойств;
  • измерение динамической твердости и микротвердости тонких пленок и покрытий.

 

Основное научное оборудование (характеристики)

  • Cканирующий электронный микроскоп LEO — 1455 VP с приставками: рентгеноспектральный микроанализатор (EDX) RONTEG; четырехсекционный детектор отраженных электронов 4QBSE; система дифракции отраженных электронов HKL EBSD Premium System Channel 5;
  • Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47 PRO;
  • Рентгеновский дифрактометр ДРОН 4.13;
  • Динамический микротвердомер SHIMADZU DUH-202;
  • Фурье-спектрометр VERTEX 70;
  • Лаборатория клеточных технологий в составе: СО2 инкубатор HERACELL 150 THERMO; центрифуга лабораторная MULTIFUGE 1L THERMO; микроскоп OLYMPUS BX51 с манипулятором SUTTER МР-225; комплекс для микроэлектродных исследований клеток;
  • Лабораторный комплекс CFHF на базе рефрижератора замкнутого цикла;
  • Комплекс оборудования для пробоподготовки в составе: шлифовально-полировальный станок TEGRAPOL-25; отрезной станок MINITOM; установка для электролитического утонения TENUPOL-5;
  • Пикосекундный комплекс на базе лазера LS-2151;
  • Установка ионного утонения, полировки, очистки PECS 682;
  • Наносекундный комплекс с параметрическим преобразователем света LT-2215 (PC) на базе лазера LS-2137;
  • Спектрально-аналитический комплекс на основе сканирующего конфокального микроскопа Nanofinder;
  • Автоматизированная вакуумная установка для ионно-плазменного нанесения нанокомпозитных покрытий и тонких пленок HHV Auto 500;
  • Спектрофотометр Photon RT;
  • Установка УИПТ-001;
  • Лазерный атомно-эмиссионный многоканальный спектрометр ЛАЭМС LSS-1.