Характеристики оборудования БМЦ

Cканирующий электронный микроскоп LEO — 1455 VP с приставками:

энергодисперсионный безазотный спектрометр Aztec Energy Advanced X-Max 80;
четырехсекционный детектор отраженных электронов 4QBSE;
система дифракции отраженных электронов HKL EBSD Premium System Channel 5

Производитель: LEO — 1455 VP, 4QBSE — Сarl Zeiss,  Aztec Energy Advanced X-Max 80, HKL EBSD Premium System Channel 5 — Oxford Instruments.

Страна: LEO — 1455 VP, 4QBSE —  Германия; Aztec Energy Advanced X-Max 80, HKL EBSD Premium System Channel 5 — Англия.

Год выпуска (модернизации): LEO – 1455 VP — 2001; 4QBSE — 2007; HKL EBSD Premium System Channel 5 — 2008; Aztec Energy Advanced X-Max 80 — 2014.

Назначение:

  • LEO – 1455 VP — исследование морфологии поверхности проводящих и непроводящих материалов;
  • Aztec Energy Advanced XMax 80 — определение качественного и количественного элементного состава материалов как по всей поверхности, так и в точке или вдоль выделенной линии. Построение карт элементного состава;
  • 4QBSE — получение изображения поверхности материала в фазовом контрасте;
  • HKL EBSD Premium System Channel 5 — определение фазового состава, ориентации кристаллитов, состояния границ зерен.

Основные технические характеристики:

LEO – 1455 VP:

  • увеличение от 32 до 300000 крат;
  • разрешение в высоковакуумном режиме для проводящих образцов 3,5 нм, в низковакуумном режиме для непроводящих образцов – 5 нм;
  • максимальный размер образца 100 мм.

Aztec Energy Advanced X-Max 80:

  • диапазон элементов от Bе до Pu;
  • пределы измеряемых концентраций 0,1-100%;
  • разрешение по энергии по Mn Kα 123 эВ.

4QBSE:

  • пространственное разрешение ограничено разрешением микроскопа;
  • разрешение по атомному номеру лучше, чем 0,1 Z.

HKL EBSD Premium System Channel 5:

  • разрешение по глубине 5 нм;
  • латеральное разрешение 500 нм;
  • угловое разрешение 0,11 град;
  • время получения одной картины Кикучи не более 1 с;
  • анализируемый диапазон симметрии кристаллов – все группы Лауэ.

 

Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47 PRO

solver-p47-proПроизводитель: НТ-МДТ

Страна: Россия

Год выпуска (модернизации): 2005, в 2013 г. закуплен дополнительный сканер с областью сканирования 100х100 мкм

Назначение: для исследования топографии и локальных магнитных, механических и электрических свойств поверхности материалов, включая биологические объекты

Основные технические характеристики:

Максимальный размер области сканирования – 100х100 мкм;

Размер образца до 40х40х10 мм;

Разрешение: уровень шума XY 0,2 нм, Z – 0,02 нм.

Реализованы различные методы измерений и воздействий: туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия (контактная и полуконтактная), электросиловая микроскопия (статическая и динамическая), магнитносиловая микроскопия, режим измерения жесткости и латеральных сил поверхности, нанолитография, спектроскопия.

.

Рентгеновский дифрактометр ДРОН 4.13

dron-4.13Производитель: ОАО НПП «Буревестник»

Страна: Россия

Год выпуска (модернизации): 1992 (в 2006 г. модернизирован системой компьютерного управления).

Назначение:  для исследования фазового состава и кристаллической структуры материалов, определения параметров решетки, выявления различных типов дефектов, анализа напряженного и текстурированного состояния.

Основные технические характеристики:

Диапазон углов 2 Тета от 0 до 164 град;

Скорость съемки дифрактограмм от 1/32 град/мин до 16 град/мин в Cu и Co-излучении;

Размер образца до 20 мм в диаметре;

Пакет программ по обработке полученных данных.

.

Динамический микротвердомер SHIMADZU DUH-202

shimadzu-duh-202Производитель: Shimadzu Corporation

Страна: Япония

Год выпуска (модернизации): 1999

Назначение: для измерения динамической твердости и микротвердости тонких пленок и покрытий.

Основные технические характеристики:

Инденторы Берковича и Виккерса;

Точность нагружения 1% от заданной нагрузки;

Точность измерения глубины 1 нм;

Величина нагрузки от 0,1 мН до 1961 мН;

Глубина индентирования до 10 мкм.

.

Фурье-спектрометр VERTEX 70

vertex-70Производитель: BRUKER

Страна: Германия

Год выпуска (модернизации): 2005

Назначение: для регистрации инфракрасных спектров различных веществ

Основные технические характеристики:

Спектральный диапазон 400-5000 см-1;

спектральное разрешение лучше, чем 0.5 см-1 (с аподизацией);

фотометрическая точность лучше, чем 0,1 %.

.

Лаборатория клеточных технологий

в составе: СО2 инкубатор HERACELL 150 THERMO; центрифуга лабораторная MULTIFUGE 1L THERMO; микроскоп OLYMPUS BX51 с манипулятором SUTTER МР-225; комплекс для микроэлектродных исследований клеток

Год выпуска (модернизации): 2007

Назначение: ведение культур клеточных линий, исследование клеток методом patch-clamp

Основные технические характеристики:

Степень очистки воздуха: не хуже 99,99% (0,3 мкм).

Инкубация: t= 5-50 oC, CO2= 0-20 %, O2= 3-90 %, Hum= 60-95 % rH.

Взвешивание: 0-1 кг, точность 0,1 мкг.

Скорость центрифугирования: 15000 оборотов.

Манипулирование: не хуже 2 мкм.

Фиксация тока: не хуже 10 мкА.

Фиксация потенциала: не хуже 1 мВ

Внутриклеточный потенциал: 0-10 кГц, 0-1 В, шум: <5 мкВ.

Внеклеточный потенциал: 0-10 кГц, 0-10 мВ, шум: <5 мкВ.

.

Лабораторный комплекс CFHF на базе рефрижератора замкнутого цикла

cfhfПроизводитель: Cryogenics Ltd

Страна: Англия

Год выпуска (модернизации): 2006 (в 2012 г. заменена головка криокуллера и обновлено программное обеспечение, в 2014 г. доукомплектован вибрационным магнетометром, измерительным зондом, насосом для прокачки рабочего газа)

Назначение: для автоматизированного измерения электрических свойств на постоянном и переменном токе, магнитных свойств, а также термоэдс и теплопроводности различных материалов

Основные технические характеристики:

Диапазон температур 1,6 – 300 К.

Магнитные поля до 8 Тл.

Область частот от 20 Гц до 30 МГц.

Область частот колебаний образца – 1 – 100 Гц;

Чувствительность по магнитному моменту – 10-6 эме;

Точность и воспроизводимость – 0,5 %;

Амплитуда переменного поля – до 5 мT при 10 Гц

.

Комплекс оборудования для пробоподготовки

в составе: шлифовально-полировальный станок TEGRAPOL-25; отрезной станок MINITOM; установка для электролитического утонения TENUPOL-5

Производитель: Struers A/S

Страна: Дания

Год выпуска (модернизации): 2006

Назначение: для резки, шлифовки, полировки, электролитического утонения образцов.

TEGRAPOL-25: шлифование и полировка образцов для растровой электронной микроскопии.

TENUPOL-5: электролитическое утонение материалов для просвечивающей электронной микроскопии.

MINITOM: резка образцов

 

Основные технические характеристики:


MINITOM
: скорость отрезания 110-420 об/мин, точность 0,01 мм.


TEGRAPOL-25
: скорость вращения полировального диска 40-600 об/мин, давление 10-400 Н.


TENUPOL-5
: одно- и двухстороннее утонение, диаметр образца 3 мм.

.

Пикосекундный комплекс на базе лазера LS-2151

ls-2151Производитель: СП «ЛОТИС-ТИИ»

Страна: Беларусь

Год выпуска (модернизации): 2008

Назначение: для динамической голографии

.

Основные технические характеристики:

Длина волны генерации 1064, 532 нм.

Длительность импульса в режиме мод. добротности 10-15 нс,

в режиме пассивной синхронизации мод 30-40 пс,

частота повторения импульсов 1-10 Гц.

.

Установка ионного утонения, полировки, очистки PECS 682

pecs-682Производитель: Gatan

Страна: США

Год выпуска (модернизации): 2009

Назначение: препарирование образцов для растровой и просвечивающей электронной микроскопии

.

.

Основные технические характеристики:

Энергия ионов от 1 до 10 кэВ;

плотность тока до 10 мА/см2;

диаметр ионного пучка до 5 мм;

скорость утонения для W 3 мкм/ч;

угол наклона образца 0-90 град.

.

Наносекундный комплекс с параметрическим преобразователем света LT-2215 (PC) на базе лазера LS-2137

lt-2215-ls-2137

Производитель: СП «ЛОТИС-ТИИ»

Страна: Беларусь

Год выпуска (модернизации): 2010

Назначение: для динамической голографии

Основные технические характеристики:

Длина волны генерации, нм: 266, 355, 542, 1064.

Длительность импульса в режиме мод. добротности 20 нс,

частота повторения импульсов 10 Гц.

.

Спектрально-аналитический комплекс на основе сканирующего конфокального микроскопа Nanofinder

nanofinderПроизводитель: СП «ЛОТИС ТИИ»

Страна: Беларусь

Год выпуска: 2011 (в 2012 г. доукомплектован оптической криогенной системой, в 2013 г. – системой вакуумирования и теплоотвода)

Назначение прибора: Спектрально-аналитический комплекс на основе сканирующего конфокального микроскопа Nanofinder обеспечивает возможность проведения рамановской спектроскопии и люминесцентного анализа с пространственным разрешением 200 нм (500 нм по глубине прозрачного образца) и спектральным разрешением 0.01 нм.

Основные технические характеристики:

Виброустойчивый стол.

Лазерный модуль: 4 лазера с автоматической коммутацией и длинами волн генерации 355 нм, 473 нм, 532 нм, 785 нм.

Оптико-механический модуль:

поляризатор – призма Глан-Тейлора;

анализатор – призма Глан-Тейлора с автоматическим управлением ввода-вывода в канал регистрации спектра.

Модуль сканирования:

диапазон сканирования по X-Y-Z – не менее 100×100×25 мкм, соответственно;

пространственное разрешение по X-Y не хуже 200 нм,

пространственное разрешение по Z не хуже 500 нм

Оптический микроскоп: прямой и инвертированный, объективы: ×5, ×10, ×50, ×100, с масляной иммерсией ×100.

Спектрограф:

рабочий спектральный диапазон 330 – 1100 нм,

спектральное разрешение: до 0.1 нм для нарезной решетки и до 0.01 нм для Эшелле решетки,

регулируемая щель: от 0 до 2 мм с шагом 0.5 мкм.

Система регистрации Рамановского и люминесцентного излучения:

цифровая ПЗС-камера: температурная стабилизация до -80 °С, яркостное разрешение 16-бит,

фотоэлектронный умножитель: рабочий спектральный диапазон не менее 300–900 нм, время нарастания выходного сигнала не более 2.5 нс, время отклика не более 25 нс, световая чувствительность анода не менее 2500 А/лм.

.

Автоматизированная вакуумная установка для ионно-плазменного нанесения нанокомпозитных покрытий и тонких пленок HHV Auto 500

hhv-auto-500Производитель: Hind High Vacuum Company Private Limited (HHV)

Страна: Индия

Год выпуска (модернизации): 2013

Назначение: для ионно-плазменного нанесения нанокомпозитных покрытий и тонких пленок

Основные технические характеристики

вакуумная технологическая камера: диаметр 500 мм, высота 600 мм, материал камеры – нержавеющая сталь (электрополировка внутренней поверхности);

система сухой (безмасляной) вакуумной откачки, обеспечивающая степень вакуума в технологической камере 5*10-7 Торр:
сухой спиральный насос (скорость откачки не менее 35 м3/ч);
турбомолекулярный насос (скорость откачки не менее 1500 л/с);
измерение давления в камере широкодиапазонным вакуумметром в диапазоне 1 атм – 1х10-8 Торр.

два магнетронных иcточника на постоянном и переменном токе:
магнетронный источник с RF блоком питания (диаметр мишени 75 мм, водяное охлаждение, источник питания 600 Вт, 13.56 МГц, цифровая система управления),
магнетронный источник с DC блоком питания (мощность 1.5 кВт, диаметр мишени 75 мм, водяное охлаждение);

система напуска технологических газов: аргон, азот,
регулировка с помощью цифровых регуляторов расхода;

два резистивных испарителя;

вращающийся подложкодержатель

.

Спектрофотометр Photon RT

photon-rtПроизводитель: ЭссентОптикс

Страна: Беларусь

Год выпуска (модернизации): 2013

Назначение: для измерения спектральных характеристик отражения, пропускания и оптической плотности плоских оптических деталей и покрытий в поляризованном свете

.

Основные технические характеристики

Спектральный диапазон, нм: 190-3000.

Спектральное разрешение, нм: 190-1000 нм (решетка 600 штр/мм) -1,8; 1000-3000 нм (решетка 300 штр/мм) -3,6.

Минимальный шаг сканирования, нм: 0,5.

Воспроизводимость длины волны, нм: 0,12.

Источник излучения: лампа галогенная 12 В, 20 Вт; лампа дейтериевая 35 Вт.

Шаг перестройки угла поворота столика: 0,1о.

Шаг перестройки угла поворота фотоприемника: 0,1о.

Точность установки углов поворота столика образцов: 0,05о.

Угол расходимости луча: 2о.

.

Установка УИПТ-001

uipt-001Производитель: БГУ, г. Минск

Страна: Беларусь

Год выпуска: 2008

Назначение: для исследования трибологических свойств поверхностей различных материалов путем получения и последующего сохранения на цифровом носителе зависимости коэффициента трения от пути трения. Области использования прибора – трибология, физика тонких пленок, материаловедение.

Основные технические характеристики:

УИПТ обеспечивает возвратно-поступательное движение образца с заданной амплитудой и скоростью, измеряя при этом коэффициент трения между индентором и поверхностью образца.

Диапазон возможных размеров образца:
минимальный размер образца 6х4х1 мм,
максимальный размер образца 20х35х8 мм.

Характеристики индентора:
тип индентора – сферический,
радиус закругления индентора – от 0,75 мм до 3 мм.

Диапазон параметров эксперимента:
нагрузка на индентор – от 0,01 Н до 0,2 Н;
скорость перемещения образца – от 0,04 мм/с до 4 мм/с,
длина трека износа – от 5 мм до 20 мм.

.

Лазерный атомно-эмиссионный многоканальный спектрометр ЛАЭМС LSS-1

lss-1Производитель: СП «ЛОТИС ТИИ»

Страна: Беларусь

Год выпуска: 2007

.

.

Назначение: для проведения качественного, полуколичественного и количественного определения состава твердых и жидких материалов посредством анализа эмиссионных спектров плазмы возбуждаемой излучением двухимпульсного Nd:YAG-лазера

Основные технические характеристики:

Длина волны излучения, нм – 1064

Частота повторения импульсов, Гц – 10

Длительность импульса τ, нс – 15

Энергия накачки Ен, Дж 8-20

Энергия лазерного импульса Еимп, мДж – 10-100

Межимпульсный врем. интервал Δt, мкс – 0-100

Шаг межимпульсного сдвига, мкс – 1

Фокусное расстояние f, мм – 100

Размер пятна фокусировки, мкм – ≈ 50

Диапазон анализ. длин волн, нм – 190-800

Разрешение по спектру, нм – 0,1

Предельная чувствительность на содержание элементов в образце, % – 10-6 – 10-5

Количество определяемых элементов – ≤ 90

Время анализа, мин – 3